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시간 주제 연사
10:00 ~10:10 (10분) 개회사
10:10 ~11:00 (50분) Key Note:
ISO2626 개정표준이 반도체 업계에 미치는 영향
기중식 박사
(큐알티 주식회사)
11:00 ~ 11:50 (50분) Session 1:
유럽 방사선 평가시설 및 연구동향
신훈규 교수
(포항공과대학교)
11:50 ~ 13:00 (70분) 점심식사
13:00 ~ 13:50 (50분) Session 2:
단일 이벤트 천이(SET)에 내성을 갖는 FinFET회로설계를 위한 총이온화선량(TID) 분석과 이온화 전류의 물리적 모델링
양지운 교수
(고려대학교)
13:50 ~ 14:40 (50분) Session 3:
반도체 소프트에러 발생빈도 계산 방법 및 지상 시험 사례
이우준 선임
(한국항공우주연구원)
14:40 ~15:00 (20분) 휴식
15:00 ~ 15:50 (50분) Session 4:
소프트에러 평가 보고서 및 데이터 해석
정성수 CTO
(큐알티 주식회사)
15:50 ~ 16:00 (10분) 폐회사 및 경품추첨

* 프로그램 및 주제(연사)는 변경될 수 있습니다.


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